Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Author Кабак, Т. В.
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 1 to 7 of 7
Issue Date
Title
Author(s)
2021
Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
Кабак, Т. В.
;
Петлицкая, Т. В.
2023
Анализ особенностей оборудования для плазменной обработки поверхности нитрида кремния
Кабак, Т. В.
2023
Анализ особенностей работы средств контроля субмикронных структур изделий электронной техники
Кабак, Т. В.
2021
Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
Кабак, Т. В.
2021
Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
Кабак, Т. В.
2021
Выявление дефектов интегральной микросхемы (ИМС) посредством ионно-лучевого травления
Кабак, Т. В.
;
Петлицкая, Т. В.
2021
Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)
Кабак, Т. В.