Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10131
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПлебанович, В. И.-
dc.contributor.authorБоровиков, С. М.-
dc.contributor.authorБудник, А. В.-
dc.date.accessioned2016-11-19T07:42:35Z-
dc.date.accessioned2017-07-19T11:59:48Z-
dc.date.available2016-11-19T07:42:35Z-
dc.date.available2017-07-19T11:59:48Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationПлебанович В. И. Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания / В. И. Плебанович, С. М. Боровиков, А. В. Будник // Технические средства защиты информации: Тезисы докладов ХIV Белорусско-российской научно-технической конференции. ( Минск 25-26 мая 2016 г.). - Минск: БГУИР, 2016. – С. 67-68.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10131-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцииru_RU
dc.subjectEEPROMru_RU
dc.subjectМОП-транзисторru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.titleОб экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питанияru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:ТСЗИ 2016

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Plebanovich_Ob.PDF681.94 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.