| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.contributor.author | Бурак, И. А. | - |
| dc.contributor.author | Бересневич, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Станюш, И. П. | - |
| dc.contributor.author | Хатьков, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-11-22T08:18:55Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:59:48Z | - |
| dc.date.available | 2016-11-22T08:18:55Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:59:48Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров Е. Н. Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработку / Е. Н. Шнейдеров и др. // Технические средства защиты информации: Тезисы докладов ХIV Белорусско-российской научно-технической конференции. ( Минск 25-26 мая 2016 г.). - Минск: БГУИР, 2016. – С. 74-75. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10170 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференции | ru_RU |
| dc.subject | биполярный транзистор | ru_RU |
| dc.title | Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработку | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2016
|
