Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10257
Title: Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех
Authors: Титович, Н. А.
Теслюк, В. Н.
Keywords: публикации ученых;электромагнитные помехи;транзисторы;микросхемы;восприимчивость
Issue Date: 2015
Publisher: Высший государственный колледж связи
Citation: Титович, Н. А. Критерии оценки восприимчивости радиоэлектронных устройств к воздействию электромагнитных помех / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк // Современные средства связи : материалы XX Международной научно-технической конференции, Минск, 14-15 октября 2015 года. – Минск : Высший государственный колледж связи, 2015. – С. 97–99.
Abstract: Проанализированы результаты исследований влияния высокочастотных помех на работу транзисторов и микросхем. Предложены критерии оценки их восприимчивости.
Alternative abstract: The results of studies of the effect of high-frequency interference in the work of transistors and microchips. Criteria of evaluation of their susceptibility.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10257
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
111003.pdf621.1 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.