| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Заяц, Е. Ю. | - |
| dc.contributor.author | Янушкевич, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Калинцев, С. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-12-20T08:08:10Z | - |
| dc.date.available | 2016-12-20T08:08:10Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Заяц, Е. Ю. Расчет минимально измеряемой толщины слоя для импульсного метода поиска и оконтуривания УВЗ / Е. Ю. Заяц, В. Ф. Янушкевич, С. В. Калинцев // Современные проблемы радиотехники и телекоммуникаций. РТ –2015 : материалы 11-й Междунар. молодежной науч.-техн. конф., (Севастополь, 16–20 ноября 2015 г. ). – Севастополь, 2015. – С. 36. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-5-9907602-1-9 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10928 | - |
| dc.description.abstract | Приведен расчет минимально измеряемой толщины слоя в зависимости от частоты следования импульсов и диэлектрической проницаемости при разработке методов основанных на использовании импульсных сигналов для поиске и оконтуривании УВЗ. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | импульсный метод поиска | ru_RU |
| dc.subject | оконтуривание УВЗ | ru_RU |
| dc.subject | толщина слоя | ru_RU |
| dc.title | Расчет минимально измеряемой толщины слоя для импульсного метода поиска и оконтуривания УВЗ | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
