Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10940
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЧернякова, К. В.-
dc.contributor.authorКарпич, Р.-
dc.contributor.authorВрублевский, И. А.-
dc.date.accessioned2016-12-21T13:01:26Z-
dc.date.accessioned2017-07-27T12:29:17Z-
dc.date.available2016-12-21T13:01:26Z-
dc.date.available2017-07-27T12:29:17Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationЧернякова, К. В. Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К. В. Чернякова, Р. Карпич, И. А. Врублевский // IV Международная научная конференция «Проблемы взаимодействия излучения с веществом», посвященная 90-летию со дня рождения Б.В. Бокутя, 9–11 ноября 2016 г. : [материалы] в 2 частях. Ч. 2 / редкол. : С.А.Хахомов (гл. ред.) [и др.]. – Гомель : ГГУ им.Ф.Скорины, 2016. – С. 181 – 186.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10940-
dc.description.abstractПоказано, что программа ImageJ для анализа микроизображений является подходящим инструментом для количественного анализа морфологии поверхности пленок анодного оксида алюминия с наноразмерными порами. Результаты обработки в программе ImageJ позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГГУ им.Ф.Скориныru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectанализ изображенийru_RU
dc.subjectанодный оксид алюминияru_RU
dc.subjectнаноразмерные порыru_RU
dc.subjectImageJru_RU
dc.titleАнализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
18096.pdf689.08 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.