Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorShimanovich, D. L.-
dc.contributor.authorSokol, V. A.-
dc.date.accessioned2017-01-06T09:52:54Z-
dc.date.accessioned2017-07-27T11:59:43Z-
dc.date.available2017-01-06T09:52:54Z-
dc.date.available2017-07-27T11:59:43Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationShimanovich, D. L. Analysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfaces. / D. L. Shimanovich,V. A. Sokol // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC – 2016» ( Москва, 21 – 25 ноября 2016 г.). В 2 ч. Ч. 2. - Москва, 2016. - С. 185-187.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГаллея-Принтru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.titleАнализ внутренних механических напряжений в слоях алюминия, напыленных на диэлектрических поверхностяхru_RU
dc.title.alternativeAnalysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfacesru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Analysis.pdf851.16 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.