| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.contributor.author | Бурак, И. А. | - |
| dc.contributor.author | Гилимович, Д. С. | - |
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-02-07T12:30:53Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T12:47:36Z | - |
| dc.date.available | 2017-02-07T12:30:53Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T12:47:36Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров, Е. Н. Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Е. Н. Шнейдеров и др. // Медэлектроника – 2015. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сборник научных статей IX Международная научно-техническая конференция (Минск, 4 – 5 декабря 2015 г.). – Минск : БГУИР, 2015. – С. 193 – 195. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11683 | - |
| dc.description.abstract | The authors describe the procedure for the organization accelerated the forced tests used for functional parameters degradation of electronic devices. We consider the established test facility and the appointment of its main parts. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электронная техника | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.title | Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Медэлектроника - 2015
|
