| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Богатко, И. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-03-21T13:07:25Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T12:46:37Z | - |
| dc.date.available | 2017-03-21T13:07:25Z | |
| dc.date.available | 2017-07-17T12:46:37Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Ускоренные испытания интегральных схем как способ прогнозирования долговечности средств медицинской электроники / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, И. Н. Богатко // Медэлектроника – 2014. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сборник научных статей VIII Международная научно-техническая конференция (Минск, 10 – 11 декабря 2014 г.). – Минск : БГУИР, 2014. – С. 165 | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12301 | - |
| dc.description.abstract | It is shown that for predicting the durability of integrated circuits means medical electronics necessary to use an expedited trial. The order of prediction of durability of integrated circuits based on the results of accelerated tests. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | УИ | ru_RU |
| dc.subject | интегральная схема | ru_RU |
| dc.title | Ускоренные испытания интегральных схем как способ прогнозирования долговечности средств медицинской электроники | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Медэлектроника - 2014
|
