DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Киевец, Н. Г. | - |
dc.contributor.author | Корзун, А. И. | - |
dc.date.accessioned | 2017-05-23T11:49:09Z | - |
dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:38:46Z | - |
dc.date.available | 2017-05-23T11:49:09Z | - |
dc.date.available | 2017-07-13T06:38:46Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Киевец, Н. Г. Двухуровневое тестирование случайных последовательностей длиной 128 и 256 битт / Н. Г. Киевец, А. И. Корзун // Доклады БГУИР. - 2017. - № 3 (105). - С. 78 - 84. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12944 | - |
dc.description.abstract | Найдены теоретические распределения вероятностей превышения тестовыми статистиками
значений, получаемых при тестировании случайных последовательностей длиной 128 и 256 бит по тесту
на самые длинные подпоследовательности единиц в блоках. Приведены результаты двухуровневого
тестирования случайных последовательностей, выработанных генераторами электронных пластиковых
Карт. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
dc.subject | двухуровневое тестирование | ru_RU |
dc.subject | случайная последовательность | ru_RU |
dc.subject | теоретическое распределение | ru_RU |
dc.subject | two-level testing | ru_RU |
dc.subject | random sequence | ru_RU |
dc.subject | theoretical distribution | ru_RU |
dc.title | Двухуровневое тестирование случайных последовательностей длиной 128 и 256 битт | ru_RU |
dc.title.alternative | Two-level testing of 128-bit and 256-bit random sequences | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
local.description.annotation | The theoretical distributions of probability of exceeding the test statistics values for test for the
longest run of ones in a block corresponded to random 128-bit and 256-bit sequences were found. The results of
two-level testing of random sequences produced by electronic plastic card random number generators were
presented. | - |
Appears in Collections: | №3 (105)
|