Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13466
Title: Специфика использования методов неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий после воздействия электростатических разрядов
Authors: Дегалевич, Д. А.
Врабий, Э. М.
Пискун, Г. А.
Алексеев, В. Ф.
Keywords: публикации ученых;электростатический разряд;полупроводниковые изделия;технологические отбраковочные испытания
Issue Date: 2015
Publisher: Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова (ВГЛТУ)
Citation: Специфика использования методов неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий после воздействия электростатических разрядов / Д. А. Дегалевич [и др.] // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2015. - № 7 (18-1). - С. 342 - 346.
Abstract: Изучаются требования к методам неразрушающего контроля полупроводниковых изделий (ППИ) и критерии для прогнозирования надежности по внезапным и параметрическим отказам на примере интегральных схем (ИС).
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13466
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Degalevich_Spetsifika.pdf578.7 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.