| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Ланин, В. Л. | - |
| dc.contributor.author | Левин, В. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-11-04T12:32:14Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:19:05Z | - |
| dc.date.available | 2014-11-04T12:32:14Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-13T06:19:05Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Моделирование распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических разрядов / Г. А. Пискун [ и др.] // Доклады БГУИР. - 2014. - № 4 (82). - С. 16 - 22. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1366 | - |
| dc.description.abstract | Экспериментально исследован принцип распространения тепловых полей в интегральных микросхемах в результате воздействия электростатических разрядов. Предложена численная модель распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем вследствие контактного воздействия разряда статического электричества, основанная на
электропроводности и Фурье-анализе их теплопроводности. Разработанная модель позволяет выявить зависимость температуры от напряжения разряда и определить наиболее уяз-
вимую токопроводящую область за счет обнаружения локальных зон расплавления. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающий контроль | ru_RU |
| dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
| dc.subject | численная модель | ru_RU |
| dc.title | Моделирование распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических разрядов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Modeling of temperature distribution in the driving elements integrated circuits resulting electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №4 (82)
|
