Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406
Title: Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем
Other Titles: Effective method of unreliable CMOS circuts identification
Authors: Белоус, А. И.
Прибыльский, А. В.
Keywords: доклады БГУИР;дефект;отказ;надежность;пробой диэлектрика
Issue Date: 2013
Publisher: БГУИР
Citation: Белоус, А. И. Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2013. - № 1 (71). - С. 94 - 96.
Abstract: С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем – имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1406
Appears in Collections:№1 (71)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Belous_Effektivniy.PDF425.53 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.