Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595
| Title: | Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий |
| Other Titles: | Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts |
| Authors: | Боровиков, С. М. |
| Keywords: | доклады БГУИР;изделия электронной техники;биполярные транзисторы;метод имитационных воздействий;индивидуальное прогнозирование значений параметра;прогнозирование постепенных отказов |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Боровиков, С. М. Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. - 2013. - № 6 (76). - С. 12 - 18. |
| Abstract: | Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному
прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода
разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов.
Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра
(транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать
значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности
этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595 |
| Appears in Collections: | №6 (76)
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
