https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1624
Title: | Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники |
Other Titles: | Interval forecast of degradation of electrical parameters for electronic devices |
Authors: | Боровиков, С. М. |
Keywords: | доклады БГУИР;изделия электронной техники;биполярные транзисторы;деградация электрических параметров;метод имитационных воздействий;прогнозирование постепенных отказов;средняя ошибка прогнозирования;интервальный прогноз функционального параметра |
Issue Date: | 2013 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Боровиков, С. М. Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. - 2013. - № 7 (77). - С. 12 - 18. |
Abstract: | При индивидуальном прогнозировании значений параметра и, следовательно, постепенных отказов изделий электронной техники (ИЭТ) методом имитационных воздействий, о достоверности прогнозирования можно судить по средней ошибке прогнозирования, которая дает представление о достоверности прогноза лишь в среднем. В частных случаях для нового (j-го) экземпляра отклонение истинного значения параметра может заметно отличаться от прогнозного значения. Для практических задач прогнозирования постепенных отказов ИЭТ для будущих наработок важно иметь и интервальный прогноз функционального параметра. Этот прогноз предлагается получать, используя контрольную выборку и гипотезу о нормальном распределении относительной ошибки прогнозирования значений параметра ИЭТ. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1624 |
Appears in Collections: | №7 (77) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Borovikov_Intervalniy.PDF | 849.67 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.