| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Филиппович, А. Г. | - |
| dc.contributor.author | Шульган, К. К. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-12-05T07:22:36Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-12T11:44:35Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-05T07:22:36Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-12T11:44:35Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Филиппович, А. Г. Создание тестовых режимов для оценки защищености ПЭВМ от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений / А. Г. Филиппович, К. К. Шульган // Доклады БГУИР. - 2011. - № 4 (58). - С. 80 - 85. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1965 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются методы создания тестовых режимов интерфейсов ПЭВМ в целях оценки
защищенности информации от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений.
Предложенный подход к созданию тестовых режимов позволяет создавать максимально
возможный уровень побочных электромагнитных излучений, источниками которых являются интерфейсы ПЭВМ, передающие информацию с помощью последовательностей импульсов. Возможность создания и применения таких режимов для оценки защищенности
ПЭВМ теоретически и экспериментально исследована для видеоинтерфейса SVGA. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | побочные электромагнитные излучения | ru_RU |
| dc.subject | интерфейс | ru_RU |
| dc.subject | тестовый режим | ru_RU |
| dc.title | Создание тестовых режимов для оценки защищености ПЭВМ от утечки по каналам побочных электромагнитных излучений | ru_RU |
| dc.title.alternative | Creation of test regimes to estimate the security of personal computers from leaking through the side electromagnetic radiation | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №4 (58)
|
