Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1980
Title: Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
Other Titles: Test of microcontrollers for sensitivity to the electrostatic category
Authors: Алексеев, В. Ф.
Силков, Н. И.
Пискун, Г. А.
Пикулик, А. Н.
Keywords: доклады БГУИР;микроконтроллер;электростатический разряд;метод контактного разряда;метод испытания
Issue Date: 2011
Publisher: БГУИР
Citation: Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам / В. Ф. Алексеев [и др. ]// Доклады БГУИР. - 2011. - № 5 (59). - С. 5 - 11.
Abstract: Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1980
Appears in Collections:№5 (59)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Alekseyev_Metodika.PDF963.95 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.