Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26045
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНавойчик, Е. А.-
dc.contributor.authorЯнушевский, В. Е.-
dc.date.accessioned2017-10-04T12:59:43Z-
dc.date.available2017-10-04T12:59:43Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationНавойчик, Е. А. Методы усовершенствования технологий измерения и совмещения интегральных микросхем / Е. А. Навойчик, В. Е. Янушевский // Информационные системы и технологии : материалы 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 2–6 мая 2017 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. А. Охрименко, В. И. Пачинин, Г. В. Сечко. – Минск , 2017. – С. 22.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26045-
dc.description.abstractВ наше время интегральные микросхемы занимают одно из передовых мест на мировом рынке. Они нашли свое применение в самых разных сферах: начиная от бытовой техники и заканчивая космической промышленностью. Еще во времена Советского союза завод «Интеграл» славился качеством своей продукции. Технологии совершенствуются, и те работы, которые раньше выполнялись вручную, сейчас требуют минимального вмешательства человека.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.subjectусовершенствование технологийru_RU
dc.titleМетоды усовершенствования технологий измерения и совмещения интегральных микросхемru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Информационные системы и технологии : 53-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов (2017)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Navoychik_Metody.PDF473.34 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.