| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Нелаев, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Стемпицкий, В. Р. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-10-17T12:06:20Z | - |
| dc.date.available | 2017-10-17T12:06:20Z | - |
| dc.date.issued | 2002 | - |
| dc.identifier.citation | Нелаев, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника" / В. В. Нелаев, B. Р. Стемпицкий. – Минск : БГУИР, 2002. – 40 с.: ил. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 985-444-348-5 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26719 | - |
| dc.description.abstract | Приведено описание компьютерной учебной программы для многофакторного статистического проектирования технологии изготовления интегральных микросхем (ИМС) с учетом влияния флуктуации технологических параметров на характеристики проектируемой схемы, основанное на использовании метода поверхности откликов в процедуре аппроксимации результатов технологического процесса. Представлена соответствующая инструкция пользования программой. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | учебно-методические пособия | ru_RU |
| dc.subject | статистический анализ | ru_RU |
| dc.subject | процессы микроэлектроники | ru_RU |
| dc.title | Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника" | ru_RU |
| dc.type | Книга | ru_RU |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники
|
