Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26819
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМусин, С. Б.-
dc.contributor.authorИванюк, А. А.-
dc.date.accessioned2017-10-18T13:13:12Z-
dc.date.available2017-10-18T13:13:12Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationМусин, С. Б. Метод оценки эффективности тестирования встроенного ПО твердотельных накопителей / С. Б. Мусин, А. А. Иванюк // Информационные технологии и системы 2013 (ИТС 2013) : материалы международной научной конференции, БГУИР, Минск, Беларусь, 23 октября 2013 г. = Information Technologies and Systems 2013 (ITS 2013) : Proceeding of The International Conference, BSUIR, Minsk, 24th October 2013 / редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. - Минск : БГУИР, 2013. – С. 194-195.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26819-
dc.description.abstractВ докладе рассматриваются проблемы разработки «прошивок» накопителей на базе флэш-памяти. Показана актуальность проблемы тестирования встроенного ПО. Предлагается метод получения компактных характеристик стеков вызовов функций программы на базе адаптивного сигнатурного анализа.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectметод адаптивного сигнатурного анализаru_RU
dc.subjectтестирование встроенного ПОru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectдокладыru_RU
dc.subjectтвердотельные накопители SSDru_RU
dc.titleМетод оценки эффективности тестирования встроенного ПО твердотельных накопителейru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:ИТС 2013

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Musin_Metod.PDF572.61 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.