| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пансевич, С. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-03-05T09:39:19Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-05T09:39:19Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Пансевич, С. А. Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1–38 80 04 / С. А. Пансевич ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018. - 16 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30299 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | механизмы отказов микросхем | ru_RU |
| dc.subject | дестабилизирующие факторы | ru_RU |
| dc.title | Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов | ru_RU |
| dc.type | Автореферат | ru_RU |
| Appears in Collections: | 1-38 80 04 Технология приборостроения
|
