Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30623
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЧембрович, В. Е.-
dc.contributor.authorХижняк, А. В.-
dc.contributor.authorБорботько, Т. В.-
dc.contributor.authorКолбун, Н. В.-
dc.contributor.authorТерех, И. С.-
dc.contributor.authorНемцев, В. А.-
dc.date.accessioned2018-03-21T08:26:15Z-
dc.date.available2018-03-21T08:26:15Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.citationВлияние геометрических неоднородностей на электромагнитные свойства экранов и поглотителей ЭМИ / В. Е. Чембрович [и др.] // Технические средства защиты информации: Российско-Белорусская научно-техническая конференция, Минск-Нарочь, 19-23 мая 2003 г. – Минск: БГУИР, 2003. – С. 29–30.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30623-
dc.description.abstractПромышленный шпионаж рано или поздно заставляет руководителя предприятия изучить аспекты защиты коммерческой тайны. Темпы развития рыночных отношений в стране превращают вопрос защиты от промышленного шпионажа в сложную проблему, к решению которой руководитель зачастую не готов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectпромышленный шпионажru_RU
dc.subjectконфиденциальная информацияru_RU
dc.titleВлияние геометрических неоднородностей на электромагнитные свойства экранов и поглотителей ЭМИru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:ТСЗИ 2003

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Chembrovich_Vliyaniye.PDF283.38 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.