Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30744
Title: Исследование двухбарьерной резонансно- туннельной структуры на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной модели
Other Titles: Investigation of GaAs/AlAs double-barrier resonant tunnel structure with the use of combined two-band model
Authors: Абрамов, И. И.
Гончаренко, И. А.
Коломейцева, Н. В.
Keywords: доклады БГУИР;резонансно-туннельная структура;двухзонная модель;пиковый ток
Issue Date: 2004
Publisher: БГУИР
Citation: Абрамов, И. И. Исследование двухбарьерной резонансно- туннельной структуры на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной модели / И. И. Абрамов, И. А. Гончаренко, Н. В. Коломейцева // Доклады БГУИР. - 2004. - № 4 (8). - С. 42 - 46.
Abstract: В данной работе проведено исследование влияния Г-Х рассеяния и температуры на вольт- амперные характеристики (ВАХ) двухбарьерной резонансно-туннельной структуры (РТС) на основе GaAs/AlAs с протяженными областями с использованием разработанной комби- нированной двухзонной модели. Предложенная модель основана на самосогласованном решении уравнений Шредингера и Пуассона и включена в систему моделирования нано- электронных приборов NANODEV. С использованием двухзонной модели показано, что учет Г-Х рассеяния существенно влияет на электрические характеристики прибора.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30744
Appears in Collections:№4 (8)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abramov_Investigation.pdf585.46 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.