Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМуравьев, В. В.-
dc.contributor.authorТамело, А. А.-
dc.contributor.authorМищенко, В. Н.-
dc.date.accessioned2018-04-02T12:58:34Z-
dc.date.available2018-04-02T12:58:34Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationМуравьев, В. В. Исследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaN / В. В. Муравьев, А. А. Тамело, В. Н. Мищенко // Доклады БГУИР. - 2004. - № 4 (8). - С. 13 - 20.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30811-
dc.description.abstractВ статье приводятся результаты исследования особенностей переноса электронов в мате- риале GaN. Наиболее общим подходом при моделировании движения электронов в полу- проводниковых структурах является использование уравнения Больцмана, для численного решения которого используется метод Монте-Карло. Определены основные электрофизиче- ские параметры материала GaN, которые необходимы для исследования переноса носителей заряда с использованием метода Монте-Карло. Рассчитаны значения частот рассеяния элек- тронов в материале GaN.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectнитридыru_RU
dc.subjectмиллиметровые волныru_RU
dc.subjectметод Монте-Карлоru_RU
dc.subjectчастоты рассеянияru_RU
dc.titleИсследование особенностей переноса электронов в полупроводниковых приборах на основе GaNru_RU
dc.title.alternativeResearch of electron transfer features in GaN semiconductor devicesru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:№4 (8)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Muraviev_Research.pdf653.96 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.