| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Журавлев, В. И. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-04T13:57:15Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-04T13:57:15Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов / В. Ф. Алексеев, В. И. Журавлев // Доклады БГУИР. - 2005. - № 2 (10). - С. 65 - 72. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30867 | - |
| dc.description.abstract | Приведен анализ тепловых моделей, описывающих деградацию полупроводниковых струк-
тур (ПС) на воздействие мощных электромагнитных импульсов (МЭМИ). Показаны основ-
ные способы описания тепловой нестационарности в полупроводниковом кристалле при
импульсном нагреве в зависимости от мощности и длительности импульса. Обсуждается
необходимость учета температурной зависимости теплофизических свойств полупроводни-
ка при моделировании тепловых полей. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковая структура | ru_RU |
| dc.subject | тепловой пробой | ru_RU |
| dc.subject | тепловые модели | ru_RU |
| dc.subject | МЭМИ | ru_RU |
| dc.title | Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Thermal models of breakdowns in semiconductor structures under actions of high electromagnetic pulses | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №2 (10)
|
