| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Богдевич, П. С. | - |
| dc.contributor.author | Мойсейчик, Е. С. | - |
| dc.contributor.author | Пшеничный, Д. С. | - |
| dc.contributor.author | Холупко, И. С. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-06-08T09:18:13Z | - |
| dc.date.available | 2018-06-08T09:18:13Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Анализ методом сканирующей зондовой микроскопии микрорельефа покрытий на стекле, нанесенных ионно-ассистированным осаждением / П. С. Богдевич и другие // Компьютерные системы и сети: материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23 – 27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 139 – 140. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31846 | - |
| dc.description.abstract | В настоящей работе были проведены исследования поверхностей тонких пленок сплава Al-1.0 ат.% Cr, полученных
методом ионно-ассистированного осаждения. В процессе работы был разработан метод исследования данных образцов
инструментами АСМ и алгоритм анализа конечных данных. Разработанный алгоритм был успешно применен для анализа
изменения топографии поверхности образцов в зависимости от условий их получения. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | сканирующая зондовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | микрорельеф покрытий на стекле | ru_RU |
| dc.subject | ионно-ассистированное осаждение | ru_RU |
| dc.title | Анализ методом сканирующей зондовой микроскопии микрорельефа покрытий на стекле, нанесенных ионно-ассистированным осаждением | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)
|
