| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Цырельчук, Н. И. | - |
| dc.contributor.author | Велюха, Ю. Е. | - |
| dc.contributor.author | Хорошко, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-06-11T09:14:42Z | - |
| dc.date.available | 2018-06-11T09:14:42Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам / С. М. Боровиков и др. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVI Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 5 июня 2018 г. – Минск: БГУИР, 2017. – С. 23. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31887 | - |
| dc.description.abstract | Деградация функционального параметра полупроводникового прибора (ППП)
обуславливает появление постепенного отказа ППП. По мере развития технологии изготовления
ППП причины возникновения внезапных отказов могут быть в значительной мере устранены.
Постепенные отказы, отражающие внутренне присущие материалам ППП свойства, в частности
старение, в принципе исключить невозможно. Этим вызван повышенный интерес к постепенным
(деградационным) отказам. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | параметр полупроводникового прибора | ru_RU |
| dc.subject | модели деградации | ru_RU |
| dc.title | Модели деградации параметров полупроводниковых приборов и их использование для прогнозирования надежности по постепенными отказам | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2018
|
