Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3207
| Title: | Разработка методов и алгоритмов тестирования оперативных запоминающих устройств |
| Authors: | Кохно, П. М. |
| Keywords: | авторефераты;алгоритмы тестирования;оперативные запоминающие устройства |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Кохно, П. М. Разработка методов и алгоритмов тестирования оперативных запоминающих устройств : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-40 80 05 / П. М. Кохно ; науч. рук. В. Н. Ярмолик. - Минск : БГУИР, 2015. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3207 |
| Appears in Collections: | 1-40 80 05 Программная инженерия
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
