| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Вилюха, Ю. Е. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-09-06T09:12:17Z | - |
| dc.date.available | 2018-09-06T09:12:17Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Вилюха, Ю. Е. Оценка надежности полупроводниковых приборов / Ю. Е. Вилюха // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 44. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828 | - |
| dc.description.abstract | В работе рассматривается подход к оценке надёжности полупроводниковых приборов на основе использования
результатов ускоренных испытаний. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | оценка надежности | ru_RU |
| dc.title | Оценка надежности полупроводниковых приборов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)
|
