Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33247
Title: Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов
Authors: Ярмолик, В. Н.
Мрозек, И.
Леванцевич, В. А.
Keywords: публикации ученых;маршевые тесты;псевдо-исчерпывающие тесты;задача собирателя купонов
Issue Date: 2018
Publisher: ОИПИ Национальной академии наук Белруси
Citation: Ярмолик, В. Н. Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2018. – Т. 15, №1. – С. 110 – 121.
Abstract: Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тесто в запоминающих устройств с изменяемым начальным состоянием сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки средней, минимальной и максимальной кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек запоминающего устройства. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается возможность псевдо-исчерпывающего тестирования запоминающих устройств.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33247
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yarmolik_Psevdo.PDF590.83 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.