Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33610
Title: Оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии на основе индекса структурного подобия
Authors: Рабцевич, В. В.
Цветков, В. Ю.
Байкенов, А. С.
Tsviatkou, V. Y.
Keywords: материалы конференций;сегментация изображений;наращивание областей;водораздел;индекс структурного подобия
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Рабцевич, В. В., Цветков, В. Ю., Байкенов , А. С. Оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии на основе индекса структурного подобия / В. В. Рабцевич, В. Ю. Цветков, А. С. Байкенов // Цифровая обработка сигналов и теория кодирования : материалы научно-технического семинара, Минск, 26 апреля 2018 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 63-67.
Abstract: Проведена оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии со сложной топологией с помощью индекса структурного подобия.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33610
Appears in Collections:Цифровая обработка сигналов и теория кодирования : материалы научно-технического семинара (2018)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Rabtsevich_Otsenka.pdf1.17 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.