Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33933
Title: Учет влияния паразитных эффектов и типовых конструктивно-­технологических решений, используемых при проектировании РЭС
Authors: Ивлиев, И. А.
Калиновский, Д. В.
Keywords: публикации ученых;электромагнитная совместимость;паразитные процессы;конструктивно-технологические решения;РЭС;проектирование
Issue Date: 2018
Publisher: Рязанский государственный радиотехнический университет
Citation: Ивлиев, И. А. Учет влияния паразитных эффектов и типовых конструктивно­-технологических решений, используемых при проектировании РЭС / И. А. Ивлиев, Д. В. Калиновский // Новые информационные технологии в научных исследованиях : материалы XXIII Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 2018 г. : т. 1 / Рязанский государственный радиотехнический университет. – Рязань, 2018. – Т. 1. – С. 294 – 295.
Abstract: Рассмотрены основные понятия электромагнитной совместимости, необходимые для рассмотрения учета паразитных эффектов и типовых конструктивно-технологических решений при проектировании электронных систем. Показано влияние электромагнитных помех на РЭС. Представлена классификацию помех, которая широко используется инженерами, работающими в области ЭМС.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33933
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ivliyev_Uchet.PDF428.52 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.