| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шлома, С. Л. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-02-11T11:38:55Z | - |
| dc.date.available | 2019-02-11T11:38:55Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Шлома, С. Л. Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех / С. Л. Шлома // Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 130–131. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34407 | - |
| dc.description.abstract | Одной из важнейших проблем, которую приходится решать разработчикам современных радиоэлектронных систем
(РЭС), является обеспечение надежной работы радиоаппаратуры в условиях воздействия электромагнитных помех (ЭМП).
Опыт, накопленный отечественными и зарубежными специалистами, показывает, что помехоустойчивость РЭС в конечном
итоге определяется помехоустойчивостью её элементной базы. Этим и обусловлена необходимость проведения исследований влияния электромагнитных помех на работоспособность полупроводниковых приборов и интегральных схем, как
наиболее уязвимых элементов, а также разработки мер по снижению их восприимчивости к действию ЭМП. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | радиоэлектронные системы | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные помехи | ru_RU |
| dc.title | Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)
|
