https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34439| Title: | Исследование теплопроводности многослойных, тонкоплёночных структур Si/Ge методом молекулярной динамики |
| Authors: | Хомец, А. Л. Холяво, И. И. Сафронов, И. В. Мигас, Д. Б. |
| Keywords: | материалы конференций;тонкоплёночные структуры;метод молекулярной динамики |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Исследование теплопроводности многослойных, тонкоплёночных структур Si/Ge методом молекулярной динамики / А. Л. Хомец [и др.] // Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 178. |
| Abstract: | В данной работе сравнивалась фононная составляющая теплопроводности многослойных, тонкоплёночных структур на основе Si/Ge с различными ориентациями, различным количеством слоёв и различной толщиной слоёв Si и Ge, представленных на рисунке 1 Расчет проводился с помощью метода равновесной молекулярной динамики, реализованного в пакете LAMMPS. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34439 |
| Appears in Collections: | Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Khomets_Issledovaniye.PDF | 487.92 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.