https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842| Title: | Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок |
| Authors: | Нгуен, А. Т. Цветков, В. Ю. |
| Keywords: | материалы конференций;поиск локальных экстремумов;выращиваемые маски;выращивание областей |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Нгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156. |
| Abstract: | Предложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и многопиксельные экстремумы. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842 |
| Appears in Collections: | BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : материалы конференции (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Nguyen_Poisk.PDF | 780.7 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.