| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Майоров, Л. В. | - |
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-05T07:50:44Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-05T07:50:44Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Майоров, Л. В. Временные отказы микропроцессорных устройств систем безопасности и оценка вероятности их возникновения / Л. В. Майоров, С. М. Боровиков // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 11 июня 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2019. – С. 45 – 46. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35618 | - |
| dc.description.abstract | К временным отказам (сбоям) устройств систем безопасности на основе микропроцессоров чаще всего приводят электромагнитные воздействия внешней среды, остальные виды воздействий обычно приводят к необратимым повреждениям в структуре электронных компонентов, в связи с чем устройство полностью теряет свои функции, частично или полностью. Временные отказы микропроцессорных устройств являются следствием проблем электромагнитной помехозащищенности как по линиям питания, так и по средам распространения полезных сигналов (провода, радиоэфир). | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | системы безопасности | ru_RU |
| dc.subject | временные отказы | ru_RU |
| dc.title | Временные отказы микропроцессорных устройств систем безопасности и оценка вероятности их возникновения | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2019
|
