| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Теслюк, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Тарасенко, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-09T06:38:08Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-09T06:38:08Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Моделирование воздействия электромагнитных помех на интегральные микросхемы / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк, В. А. Тарасенко // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 11 июня 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол. : Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2019. – С. 70. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35664 | - |
| dc.description.abstract | При исследовании влияния электромагнитных помех (ЭМП) на интегральные микросхемы (ИМС), блоки и устройства радиоаппаратуры целесообразно проводить испытания с использованием TEM-камеры. При этом перед экспериментом проводится предварительное расчетное моделирование влияния ЭМП на ИМС и устройства. Это позволяет значительно сократить затраты времени и средств. Используя для расчетов библиотеку ранее разработанных простых моделей, можно прибегать к проведению эксперимента только на стадии испытаний законченного изделия. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные помехи | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Моделирование воздействия электромагнитных помех на интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2019
|
