Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36278
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтельмахов, Р. В.-
dc.date.accessioned2019-09-17T08:45:32Z-
dc.date.available2019-09-17T08:45:32Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationСтельмахов, Р. В. Методы оценки радиационной стойкости элементной базы биполярных интегральных микросхем / Р. В. Стельмахов // Радиотехника и электроника: 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 220–221.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36278-
dc.description.abstractЦелью работы является разработка расчетно-экспериментальных методов оценки стойкости биполярных интегральных микросхем к воздействию ионизирующих излучений.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.subjectрадиационная стойкостьru_RU
dc.titleМетоды оценки радиационной стойкости элементной базы биполярных интегральных микросхемru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Stelmakhov_Metody.pdf437.62 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.