DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Шепелевич, Марина Александровна | - |
dc.date.accessioned | 2015-03-12T07:42:00Z | |
dc.date.accessioned | 2017-07-20T12:06:20Z | - |
dc.date.available | 2015-03-12T07:42:00Z | |
dc.date.available | 2017-07-20T12:06:20Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Шепелевич, М. А. Нейросетевая идентификация дефектов полупроводниковых пластин : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-40-80-03 / М. А. Шепелевич ; науч. рук. А. А. Дудкин. - Минск : БГУИР, 2015. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3636 | - |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | авторефераты | ru_RU |
dc.subject | нейросетевая идентификация | ru_RU |
dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
dc.subject | дефекты | ru_RU |
dc.title | Нейросетевая идентификация дефектов полупроводниковых пластин | ru_RU |
dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
Appears in Collections: | 1-40 80 03 Вычислительные машины и системы
|