| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Букато, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Досова, А. П. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-03T11:20:25Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-03T11:20:25Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Букато, А. В. Многоуровневая функциональная визуализация интерфейсов с помощью атомно-силовой микроскопии / Букато А. В., Досова А. П. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 67 – 68. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36614 | - |
| dc.description.abstract | Пространственное разрешение атомно-силовой микроскопии зависит от размера кантилевера и кривизны его острия. Здесь
описывается новая мультифункциональная техника функциональной визуализации, которая позволяет настраивать
пространственное разрешение на месте. Данная техника может применяться к широкому спектру неоднородных материалов,
устройств и интерфейсов. Пространственное разрешение результирующего изображения определяется d-зависимостью
сигнала. Электростатические измерения с зондовой микроскопией Кельвина с открытым контуром показывают, что можно
применять несколько силовых модуляций одновременно. Кроме того, этот метод может применяться к любой силе наконечника-
образца, что показывает универсальность метода. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | зондовая микроскопия Кельвина | ru_RU |
| dc.title | Многоуровневая функциональная визуализация интерфейсов с помощью атомно-силовой микроскопии | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
