| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Досова, А. П. | - |
| dc.contributor.author | Букато, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-03T12:17:53Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-03T12:17:53Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Досова, А. П. Получение изображений тонких пленок с помощью атомно-силовой микроскопии. Сверхвысокое разрешение / Досова А. П., Букато А. В. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 110 – 111. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36625 | - |
| dc.description.abstract | Изображения полимеров в реальном пространстве с субмолекулярным разрешением могут дать ценную информацию о связи
между морфологией и функциональностью полимерных оптоэлектронных устройств, но их получение проблематично из-за
предполагаемых ограничений в атомно-силовой микроскопии (АСМ). В данной статье описывается способ, позволяющий
получить изображения поверхности тонких пленок со сверхвысоким разрешением с помощью АСМ. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | изображения полимеров | ru_RU |
| dc.title | Получение изображений тонких пленок с помощью атомно-силовой микроскопии. Сверхвысокое разрешение | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
