| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Колосницын, Б. С. | - |
| dc.contributor.author | Короткевич, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-07-10T13:17:09Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T07:47:51Z | - |
| dc.date.available | 2014-07-10T13:17:09Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T07:47:51Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Колосницын, Б. С. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения / Б. С. Колосницын, А. В. Короткевич. – Минск : БГУИР, 2005. – 20 с. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 985-444-773-1 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370 | - |
| dc.description.abstract | Курс «Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем» включает десять тем. К каждой теме прилагаются основная и дополнительная литература, подробные методические указания и вопросы для самопроверки. Приведены задачи и вопросы, входящие в индивидуальное контрольное задание. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | учебно-методические пособия | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.title | Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники
|
