| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-11-16T07:09:53Z | - |
| dc.date.available | 2019-11-16T07:09:53Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Леванцевич, В. А. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем / Леванцевич В. А. // Информационные технологии и системы 2019 (ИТС 2019) = Information Teсhnologies and Systems 2019 (ITS 2019) : материалы международной научной конференции, Минск, 30 октября 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2019. – С. 138 – 139. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286 | - |
| dc.description.abstract | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) встраиваемых систем. Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с изменяемым начальным состоянием для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ.
Приводятся оценки минимальной, средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | оперативные запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | тест March С | ru_RU |
| dc.title | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2019
|
