Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37314
Title: Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ
Authors: Гапчинский, В. А.
Кривоус, А. И.
Keywords: материалы конференций;СЭМ-изображение
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Гапчинский, В. А. Обработка СЭМ изображений поверхностей с помощью ImageJ / Гапчинский В. А., Кривоус А. И. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 269-270.
Abstract: В работе представлены результаты исследований обработки СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью программы ImageJ. Результаты обработки позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37314
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Gapchinskiy_Obrabotka.pdf612.02 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.