| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | - |
| dc.contributor.author | Антончик, Л. С. | - |
| dc.contributor.author | Дайняк, И. В. | - |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-11-21T08:33:09Z | - |
| dc.date.available | 2019-11-21T08:33:09Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Корреляционный анализ контактного и бесконтактного методов неразрушающего контроля / Волкенштейн С. С. [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, Минск, 14 - 16 ноября 2018 г. / Белорусский национальный технический университет; редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск, 2018. – С. 251 – 252. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37431 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются вопросы контроля качества соединений кристалла с подложкой на основе лазерного интерферометрического метода и последующего корреляционного анализа матриц деформации, полученных до и после монтажа. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БНТУ | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | лазерная интерферометрия | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающий контроль | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковый кристалл | ru_RU |
| dc.subject | корреляционный анализ | ru_RU |
| dc.title | Корреляционный анализ контактного и бесконтактного методов неразрушающего контроля | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
