Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38416
Title: Методика исследования шероховатости поверхности тонкопленочных солнечных элементов на основе профилометра TALYSTEP
Authors: Гурский, С. В.
Ли, В. К.
Keywords: публикации ученых;солнечные элементы;коэффициент поглощения энергии
Issue Date: 2019
Publisher: РГРТУ имени В.Ф. Уткина
Citation: Гурский, С. В. Методика исследования шероховатости поверхности тонкопленочных солнечных элементов на основе профилометра TALYSTEP / С. В. Гурский, В. К. Ли. // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 1. – С. 138 – 139.
Abstract: Увеличение коэффициента поглощения энергии солнечными элементами (СЭ) является ключевым фактором для выживания технологии в качестве возобновляемого ресурса. Многослойные покрытия учитывают абсорбцию, пропускание и отражение солнечного света, который необходим для функционирования фотоэлементов. Исследования показали, что шероховатость каждого из слоёв многослойного покрытия оказывает значительное влияние на КПД батареи. Поэтому контроль шероховатости слоев является важной технологической операцией при производстве солнечных элементов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38416
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Gurskiy_Metodika1.pdf177.53 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.