https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38417| Title: | Методика анализа микрорельефа и структуры пленок солнечных элементов на основе РЭМ |
| Authors: | Гурский, С. В. Ли, В. К. |
| Keywords: | публикации ученых;растровый электронный микроскоп;структуры солнечных элементов |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Гурский, С. В. Методика анализа микрорельефа и структуры пленок солнечных элементов на основе РЭМ / С. В. Гурский, В. К. Ли // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019) : материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13-15 ноября 2019 г. : в 2 т. Т. 2 / Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – С. 83–84. |
| Abstract: | Использование растрового электронного микроскопа (РЭМ) для анализа тонкопленочных структур солнечных элементов (СЭ) позволяет получать ценную информацию о микрорельефе поверхностей различных слоѐв солнечных батарей, измерять их толщину и размеры элементов топологии. Эти размеры, как правило, имеют микронный масштаб, поэтому исследовать их с помощью обычного оптического микроскопа не представляется возможным. Однако существующая методика анализа структур солнечных элементов на базе РЭМ не всегда приносят желаемый результат и нуждаются в доработке. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38417 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Gurskiy_Metodika2.pdf | 204.07 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.