https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38506
Title: | Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ |
Authors: | Лисовский, А. А. Константинов, А. А. Панасюк, Н. А. |
Keywords: | публикации ученых;полупроводниковые приборы;импульсный разря |
Issue Date: | 2019 |
Publisher: | РГРТУ имени В.Ф. Уткина |
Citation: | Лисовский, А. А. Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ / А. А. Лисовский, А. А. Константинов, Н. А. Панасюк // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 2. – С. 109 – 111. |
Abstract: | Выявление причин неработоспособности полупроводниковых приборов (ППП) связано с необходимостью поиска и устранения дефектов, возникших в процессе производства или эксплуатации. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38506 |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Lisovskiy_Defekty.pdf | 412.86 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.