Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38506
Title: Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ
Authors: Лисовский, А. А.
Константинов, А. А.
Панасюк, Н. А.
Keywords: публикации ученых;полупроводниковые приборы;импульсный разря
Issue Date: 2019
Publisher: РГРТУ имени В.Ф. Уткина
Citation: Лисовский, А. А. Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ / А. А. Лисовский, А. А. Константинов, Н. А. Панасюк // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 2. – С. 109 – 111.
Abstract: Выявление причин неработоспособности полупроводниковых приборов (ППП) связано с необходимостью поиска и устранения дефектов, возникших в процессе производства или эксплуатации.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38506
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Lisovskiy_Defekty.pdf412.86 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.