| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Ползунов, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-03-31T07:07:40Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T06:24:35Z | - |
| dc.date.available | 2015-03-31T07:07:40Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-13T06:24:35Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов к воздействию электромагнитных помех / Н. А. Титович, В. В. Ползунов // Доклады БГУИР. – 2015. – № 2(88). – С. 114–118. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3921 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитые помехи | ru_RU |
| dc.title | Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов к воздействию электромагнитных помех | ru_RU |
| dc.title.alternative | Susceptibility analysis of semiconductor devices to electromagnetic interference | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | №2 (88)
|
