| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Теслюк, В. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-07-31T12:23:35Z | - |
| dc.date.available | 2020-07-31T12:23:35Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Влияние конструкции корпуса микросхем на их восприимчивость к воздействию электромагнитных полей / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 9 июня 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол.: Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2020. – С. 76–77. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-543-513-7 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39592 | - |
| dc.description.abstract | Перед разработчиками специальных радиоэлектронных систем нередко стоит задача обеспечения их надежной работы при уровнях напряженности электромагнитных полей до 20 и более кВ/м. При проектировании бортовой аппаратуры вопросы защиты от помех целесообразно рассматривать на этапе выбора элементной базы, а традиционные экраны во избежание увеличения габаритов и веса используются только для защиты наиболее уязвимых мест устройства. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | конструкция корпуса микросхем | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные поля | ru_RU |
| dc.title | Влияние конструкции корпуса микросхем на их восприимчивость к воздействию электромагнитных полей | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2020
|
